Charge deep level transient spectroscopy study of 3 - 7 MEV/AMU ion and fast neutron irradiation-induced changes in MOS structures / J.Stano, V.A.Skuratov, M.Ziska
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Stano, J. |
| Опубликовано: | Dubna : Joint Inst. for Nuclear Research , 2001 |
| Физические характеристики: |
11 p. ; 22 см.
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Preprint
E7-2001-37 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||