Моделирование деформирования и разрушения тонких пленок с учетом их структуры: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 01.02.04; 01.04.07 / Владимиров Александр Сергеевич

Guardado en:
Шифр документа: 2Ад63110,
Formato: Авторефераты диссертаций
Autor principal: Владимиров, А. С.
Publicado: М. , 2001
Descripción Física: 21 с.
Lenguaje: Русский
Materias:
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ УСТРОЙСТВА
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ
ВАКАНСИИ (физ.)
ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ
ПОРООБРАЗОВАТЕЛИ
МЕХАНИЧЕСКОЕ НАПРЯЖЕНИЕ
МИКРОПОРИСТОСТЬ
ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
ЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ТОК
МЕЖЗЕРЕННЫЕ ГРАНИЦЫ
ЧИСЛЕННЫЕ РАСЧЕТЫ

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Disponible  Hacer reserva

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Ад63110 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:76 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал

Ejemplares similares