Моделирование деформирования и разрушения тонких пленок с учетом их структуры: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 01.02.04; 01.04.07 / Владимиров Александр Сергеевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад63110,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Владимиров, А. С.
Опубликовано: М. , 2001
Физические характеристики: 21 с.
Язык: Русский
Предмет:
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ УСТРОЙСТВА
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ
ВАКАНСИИ (физ.)
ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ
ПОРООБРАЗОВАТЕЛИ
МЕХАНИЧЕСКОЕ НАПРЯЖЕНИЕ
МИКРОПОРИСТОСТЬ
ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
ЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ТОК
МЕЖЗЕРЕННЫЕ ГРАНИЦЫ
ЧИСЛЕННЫЕ РАСЧЕТЫ

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Ад63110 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:76 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал

Схожие документы