Неразрушающая диагностика электронных свойств структур на основе SiC и GaAs/AlGaAs: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Титков Илья Евгеньевич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Титков, И. Е. |
| Опубликовано: | СПб. , 2001 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||