On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Цыганов, Ю. С. |
Опубликовано: | Dubna , 1994 |
Физические характеристики: |
4 p.
|
Язык: | Английский |
Серия: |
Preprint
E7-94-346 |
00000cam0a22000004ib4500 | |||
001 | BY-NLB-br35048 | ||
005 | 20230920115714.0 | ||
010 | # | # | $d 1000 r. |
100 | # | # | $a 19930724d1994 u y0bely50 ||||ca |
101 | 0 | # | $a eng |
105 | # | # | $a y z 000 y |
200 | 1 | # | $a On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector |
210 | # | # | $a Dubna $d 1994 |
215 | # | # | $a 4 p. |
225 | 1 | # | $a Preprint $f The Joint Institute for Nuclear Research $v E7-94-346 |
300 | # | # | $a Ref.:p.4 |
675 | # | # | $a 539.1.074 $v 3 $z rus |
700 | # | 1 | $3 BY-SEK-127954 $a Цыганов $b Ю. С. $g Юрий Сергеевич $c физик |
701 | # | 1 | $a Поляков $b А. Н. $c физик |
801 | # | 0 | $a BY $b BY-HM0000 $c 19930724 $g psbo |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20060314 $g psbo |