On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector

Сохранено в:
Шифр документа: 1Ок48026(ДХ),
Вид документа: Книги
Автор: Цыганов, Ю. С.
Опубликовано: Dubna , 1994
Физические характеристики: 4 p.
Язык: Английский
Серия: Preprint E7-94-346
00000cam0a22000004ib4500
001 BY-NLB-br35048
005 20230920115714.0
010 # # $d 1000 r. 
100 # # $a 19930724d1994 u y0bely50 ||||ca 
101 0 # $a eng 
105 # # $a y z 000 y 
200 1 # $a On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector 
210 # # $a Dubna  $d 1994 
215 # # $a 4 p. 
225 1 # $a Preprint  $f The Joint Institute for Nuclear Research  $v E7-94-346 
300 # # $a Ref.:p.4 
675 # # $a 539.1.074  $v 3  $z rus 
700 # 1 $3 BY-SEK-127954  $a Цыганов  $b Ю. С.  $g Юрий Сергеевич  $c физик 
701 # 1 $a Поляков  $b А. Н.  $c физик 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930724  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060314  $g psbo