On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Цыганов, Ю. С. |
| Опубликовано: | Dubna , 1994 |
| Физические характеристики: |
4 p.
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Preprint
E7-94-346 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||