Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Саврасова Наталья Александровна

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад47789,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Саврасова, Н. А.
Опубликовано: Воронеж , 2000
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br313259
005 20070615191158.6
100 # # $a 20010205d2000 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.07  $f Саврасова Наталья Александровна  $g [Воронеж. гос. ун-т] 
210 # # $a Воронеж  $d 2000 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 18-20. 
686 # # $a 29.19.22  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.35.41  $2 rugasnti 
686 # # $a 31.15.21  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-482812  $a Саврасова  $b Н. А.  $g Наталья Александровна 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20010205  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo