Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Саврасова Наталья Александровна

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад47789,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Саврасова, Н. А.
Опубликовано: Воронеж , 2000
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Ад47789 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:76 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал