Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 ; 05.13.16 / С.-Петерб. гос. ун-т

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад34344,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Уткин, А. Б.
Опубликовано: СПб. , 1999
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br173948
005 20070615190854.7
100 # # $a 19990624d1999 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.10 ; 05.13.16  $f С.-Петерб. гос. ун-т 
210 # # $a СПб.  $d 1999 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 16-17 (10 назв.) 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24596  $a ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar12158  $a ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar37857  $a ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar25725  $a ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar9575  $a ДИЭЛЕКТРИКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11335  $a ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24597  $a ПАЎПРАВАДНІКОВЫЯ СТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar12159  $a ІОННАЯ ІМПЛАНТАЦЫЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar37858  $a ЛІКАВАЕ МАДЭЛЯВАННЕ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar9576  $a ДЫЭЛЕКТРЫКІ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11336  $a ВЫМЯРАЛЬНЫЯ СІСТЭМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar25726  $a ПРАГРАМНАЕ ЗАБЕСПЯЧЭННЕ  $2 DVNLB 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.09.29  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
686 # # $a 05.13.16  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-461136  $a Уткин  $b А. Б.  $g Алексей Борисович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19990624  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo