Применение мультипольной модели и топологического анализа электронной плотности к исследованию химической связи и свойств силикатов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / Моск. гос. ун-т им. Д.И.Менделеева

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад31347,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Иванов, Ю. В.
Опубликовано: М. , 1998
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br171344
005 20220426145756.0
100 # # $a 19990204d1998 u y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Применение мультипольной модели и топологического анализа электронной плотности к исследованию химической связи и свойств силикатов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 02.00.04  $f Моск. гос. ун-т им. Д.И.Менделеева 
210 # # $a М.  $d 1998 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 18-19 (6 назв.) 
606 0 # $3 BY-NLB-ar29998  $a СИЛИКАТЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar29999  $a СІЛІКАТЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2899203  $a КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2899204  $a КРЫШТАЛІЧНЫЯ СТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar62662  $a ЭЛЕКТРОННАЯ ПЛОТНОСТЬ  $2 DVNLB 
686 # # $a 31.15.17  $2 rugasnti 
686 # # $a 38.35.17  $2 rugasnti 
686 # # $a 02.00.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-452657  $a Иванов  $b Ю. В.  $g Юрий Вячеславович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19990204  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo