Применение мультипольной модели и топологического анализа электронной плотности к исследованию химической связи и свойств силикатов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / Моск. гос. ун-т им. Д.И.Менделеева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Иванов, Ю. В. |
| Опубликовано: | М. , 1998 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||