Исследование электрически активных дефектов в кристаллах CdxHg1-xTe методами растровой электронной микроскопии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / Рос. АН, Ин-т пробл. технологии микроэлектроники и особочистых материалов
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Main Author: | Панин, Г. Н. |
| Published: | Черноголовка , 1994 |
| Physical Description: |
18 с.
|
| Language: | Russian |
ОФХ отдела книгохранения
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||