Применение рентгенофлуоресцентного анализа для контроля стехиометрии висмутсодержащих высокотемпературных сверхпроводников: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук: 02.00.02 / Акад. наук Украины, Физ.-хим. ин-т им. А.В.Богатского

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад17874,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Спольник, З. М.
Опубликовано: Одесса , 1993
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br156576
005 20070615190504.6
100 # # $a 19930101d1993 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Применение рентгенофлуоресцентного анализа для контроля стехиометрии висмутсодержащих высокотемпературных сверхпроводников  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук  $e 02.00.02  $f Акад. наук Украины, Физ.-хим. ин-т им. А.В.Богатского 
210 # # $a Одесса  $d 1993 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 19 (9 назв.) 
686 # # $a 31.19.03  $2 rugasnti 
686 # # $a 02.00.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-427832  $a Спольник  $b З. М.  $g Зоя Михайловна 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930101  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo