Применение рентгенофлуоресцентного анализа для контроля стехиометрии висмутсодержащих высокотемпературных сверхпроводников: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук: 02.00.02 / Акад. наук Украины, Физ.-хим. ин-т им. А.В.Богатского
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Спольник, З. М. |
| Опубликовано: | Одесса , 1993 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||