Моделирование дефектообразования в пленках ВТСП и Si-детекторах при облучении дейтронами / Н.Б.Строкан,Л.С.Медведев,В.М.Лебедев
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | СПб. , 1993 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препр.
1855 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||