Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т им. В.И.Ульянова-Ленина

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад14708,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Во, Т. Л.
Опубликовано: СПб. , 1995
Физические характеристики: 16 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br153338
005 20150417091632.0
100 # # $a 19930101d1995 u y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.10  $f С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т им. В.И.Ульянова-Ленина 
210 # # $a СПб.  $d 1995 
215 # # $a 16 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-16 (5 назв.) 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24588  $a ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24589  $a ПАЎПРАВАДНІКОВЫЯ МАТЭРЫЯЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar52660  $a РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ  $2 DVNLB 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-419418  $a Во  $b Т. Л.  $g Тан Лонг 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930101  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo