Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т им. В.И.Ульянова-Ленина
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Во, Т. Л. |
| Опубликовано: | СПб. , 1995 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||