|
|
|
|
|
00000cam0a22000004ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-br152644 |
| 005 |
20190521112049.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 19930101d1994 u y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 105 |
# |
# |
$a y 001 y
|
| 109 |
# |
# |
$a aa
$a ac
|
| 200 |
1 |
# |
$a Природа и механизм образования радиационных и электроразрядных дефектов в SiO2/B2O3
$e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
$e 01.04.18
$f Азерб. гос. пед. ун-т им. Н.Туси
|
| 210 |
# |
# |
$a Баку
$d 1994
|
| 215 |
# |
# |
$a 21 с.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 20-21 (10 назв.)
|
| 686 |
# |
# |
$a 01.04.18
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-417755
$a Панахов
$b Н. Т.
$g Натиг Тахир оглы
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 19930101
$g psbo
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20060316
$g psbo
|
