Природа и механизм образования радиационных и электроразрядных дефектов в SiO2/B2O3: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Азерб. гос. пед. ун-т им. Н.Туси
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Панахов, Н. Т. |
| Опубликовано: | Баку , 1994 |
| Физические характеристики: |
21 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||