Разработка методов прямого элементного анализа высокочистых веществ для микроэлектроники и природных объектов с помощью лазерной ионизационной спектрометрии: Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.хим.наук: 02.00.02 / Ташк.гос.ун-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Халманов, А. Т. |
| Опубликовано: | Ташкент , 1995 |
| Физические характеристики: |
23с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||