Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем: Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.техн.наук:(08.00.20) / Моск.гос.техн.ун-т им.Н.Э.Баумана
Сохранено в:
| 格式: | |
|---|---|
| 主要作者: | Голубев, В. В. |
| 出版: | М. , 1993 |
| 實物描述: |
15с.
|
| 語言: | Русский |
| 主題: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | 可用 預訂 | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||