Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем: Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.техн.наук:(08.00.20) / Моск.гос.техн.ун-т им.Н.Э.Баумана
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Голубев, В. В. |
| Опубликовано: | М. , 1993 |
| Физические характеристики: |
15с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||