Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем: Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.техн.наук:(08.00.20) / Моск.гос.техн.ун-т им.Н.Э.Баумана
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | Голубев, В. В. |
| Wydane: | М. , 1993 |
| Opis fizyczny: |
15с.
|
| Język: | Русский |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||