Развитие возмущений в тонкой пленке при больших числах рейнольдса: Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.физ.-мат.наук:(01.02.05) / РосАН,Вычисл.центр,АН Республики Узбекистан,Ин-т механики и сейсмостойкости сооружений им.М.Т.Уразбаева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Багбеков, Р. К. |
| Опубликовано: | М. , 1993 |
| Физические характеристики: |
13 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||