Миграция электронов и дырок по точечным дефектам в компенсированных полупроводниках и элементах приборных структур на их основе: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 01.04.10 Физика полупроводников / Аникеев Илья Иванович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Аникеев, И. И. |
| Опубликовано: | Минск , 2024 |
| Физические характеристики: |
21 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: | |
| Е-документ: |
E-документ
|