Магнитооптический метод в составе атомно-силовой микроскопии для исследования параметров поверхности доменной структуры тонких пленок: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальность 1.3.2 Приборы и методы экспериментальной физики / Высоких Юрий Евгеньевич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Высоких, Ю. Е. |
| Опубликовано: | Москва , 2023 |
| Физические характеристики: |
22 с. : ил., цв. ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||