Исследование эффектов оптической близости и разработка методов их коррекции для критических литографических слоев технологии производства СБИС проектных норм 65 нм: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 2.2.2 Электронная компонентная база микро-и наноэлектроники, квантовых устройств / Иванов Владимир Викторович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Иванов, В. В. |
| Опубликовано: | Москва , 2023 |
| Физические характеристики: |
35 с. : ил., табл.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||