Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: специальность 1.3.11 Физика полупроводников / Тягинов Станислав Эдуардович

Сохранено в:
Шифр документа: 2//249903(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Тягинов, С. Э.
Опубликовано: Санкт-Петербург , 2022
Физические характеристики: 38 с. : цв. ил.
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2//249903(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:95 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал