The 1978 Canadian reliability symposium, October 19―20, 1978, Ottawa, Ontario, Canada: proceedings
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | [S. l. : s. n. , 1979] |
| Физические характеристики: |
VIII, 168 с. : іл. ; 24 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Microelectronics and reliability
vol. 19, № 1/2 |
Загрузка