The 1978 Canadian reliability symposium, October 19―20, 1978, Ottawa, Ontario, Canada: proceedings
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | [S. l. : s. n. , 1979] |
Физические характеристики: |
VIII, 168 с. : іл. ; 24 см
|
Язык: | Английский |
Серия: |
Microelectronics and reliability
vol. 19, № 1/2 |
1979, Vol.19,№1/2: The 1978 Canadian reliability symposium...
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|