The 1978 Canadian reliability symposium, October 19―20, 1978, Ottawa, Ontario, Canada: proceedings

Сохранено в:
Шифр документа: 3И//526531(050),
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: [S. l. : s. n. , 1979]
Физические характеристики: VIII, 168 с. : іл. ; 24 см
Язык: Английский
Серия: Microelectronics and reliability vol. 19, № 1/2
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001772842
005 20220602162739.0
010 # # $a 0-08-023228-0 
100 # # $a 20220602e19791979|||y0bely50 ba 
101 0 # $a eng 
105 # # $a a ||||100yy 
200 1 # $a The 1978 Canadian reliability symposium, October 19―20, 1978, Ottawa, Ontario, Canada  $e proceedings 
210 # # $a [S. l.  $c s. n.  $d 1979] 
215 # # $a VIII, 168 с.  $c іл.  $d 24 см 
225 2 # $a Microelectronics and reliability  $x 0026-2714  $v vol. 19, № 1/2 
300 # # $a Выхадныя даныя арыгінала: Oxford [etc.] : Pergamon Press, 1979 
320 # # $a Бібліяграфія ў канцы артыкулаў 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br285233  $1 2001   $v 1979,Vol.19,№1/2 
710 1 2 $a Canadian reliability symposium  $d 5  $f 1978  $e Ottawa 
712 0 2 $a Society of Reliability Engineers  $4 557 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20220602  $g RCR