IBM ASIC design and testing / [guest editors: Edward P. Hsieh, Michael D. O'Neill]
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | Armonk, NY : International Business Machines Corporation , 1996 |
Физические характеристики: |
С. [1], 376―508 : іл. ; 28 см
|
Язык: | Английский |
Серия: |
IBM journal of research and development
vol. 40, № 4 |
1996, Vol.40,№4: IBM ASIC design and testing
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|