IBM ASIC design and testing / [guest editors: Edward P. Hsieh, Michael D. O'Neill]

Сохранено в:
Шифр документа: 3И//461067(050),
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Armonk, NY : International Business Machines Corporation , 1996
Физические характеристики: С. [1], 376―508 : іл. ; 28 см
Язык: Английский
Серия: IBM journal of research and development vol. 40, № 4

1996, Vol.40,№4: IBM ASIC design and testing

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
3И//461067(050) ОФХ журналов и продолжающихся изданий (050) 13:2 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал