Applications of X-Ray topographic methods to materials science / edited by Sigmund Weissmann, Françoise Balibar and Jean-François Petroff
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Weissmann, Sigmund |
| Опубликовано: | New York London : Plenum Press , 1984 |
| Физические характеристики: |
XIII, 536 c. : іл.
|
| Язык: | Английский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||