Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technolody III / Orest J. Glembocki, Fred H. Pollak, Fernando Ponce
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | SPIE - the international society for optical enginneering |
| Опубликовано: | Washington : SPIE , 1988 |
| Физические характеристики: |
VIII, 234 c.
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Proceedings of SPIE - the international society for optical enginneering; Vol. 946
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||