Результаты испытаний монитора вторичной эмиссии для измерения профиля пучка / Р. В. Ревенко [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Дубна : ОИЯИ , печ. 2017 |
| Физические характеристики: |
8, [1] с. : цв. ил., табл. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Сообщения Объединенного института ядерных исследований
Р7-2017-58 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||