Прогнозирование надежности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах / Шнейдеров Евгений Николаевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Н//223706(039), 2Н//223707(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Шнейдеров, Е. Н.
Опубликовано: Минск , 2018
Физические характеристики: 22 с.
Язык: Русский
Предмет:
Е-документ: E-документ

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Н//223706(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:94 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
2Н//223707(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:94 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал