|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001444648 |
| 005 |
20180130115722.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20180130d1980 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1979 гг.)
$f [А. Е. Богатырев, Л. И. Шушунова, Г. М. Цыганов]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1980
|
| 215 |
# |
# |
$a 39, [1] с.
$c табл.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$i Серия 7
$i Технология, организация производства и оборудование
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1980, вып. 3
|
| 304 |
# |
# |
$a Авторы указаны на обложке
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 37―40 (72 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1780 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br119311
$1 2001
$v 1980, вып. 3
|
| 700 |
# |
1 |
$a Богатырев
$b А. Е.
|
| 701 |
# |
1 |
$a Шушунова
$b Л. И.
|
| 701 |
# |
1 |
$a Цыганов
$b Г. М.
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20180126
$g psbo
|
