Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1979 гг.) / [А. Е. Богатырев, Л. И. Шушунова, Г. М. Цыганов]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Богатырев, А. Е. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1980 |
| Физические характеристики: |
39, [1] с. : табл. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1980, вып. 3 |
1980, Вып.3: Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||