Статистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве / В. П. Кульвинова [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кульвинова, В. П. |
| Опубликовано: | Москва : Институт "Электроника" , 1970 |
| Физические характеристики: |
26, [7] с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1970, вып. 11 |
Загрузка