Статистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве / В. П. Кульвинова [и др.]
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | Кульвинова, В. П. |
| Wydane: | Москва : Институт "Электроника" , 1970 |
| Opis fizyczny: |
26, [7] с. : ил. ; 21 см
|
| Język: | Русский |
| Seria: |
Обзоры по электронной технике
1970, вып. 11 |
1970, Вып.11: Статистические методы анализа и контроля... / Кульвинова В. П.
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||