|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001444460 |
| 005 |
20180127101528.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20180127d1970 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Статистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве
$f В. П. Кульвинова [и др.]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c Институт "Электроника"
$d 1970
|
| 215 |
# |
# |
$a 26, [7] с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$i Серия: Технология и организация производства
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1970, вып. 11
|
| 345 |
# |
# |
$9 1400 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0001378097
$1 2001
$v 1970, вып. 11
|
| 700 |
# |
1 |
$a Кульвинова
$b В. П.
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20180127
$g psbo
|
