|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001443556 |
| 005 |
20180123131644.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20180123d1982 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы анализа качества микросхем при их производстве
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1981 гг.)
$f [В. И. Овчаренко, В. Е. Севостьянов]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1982
|
| 215 |
# |
# |
$a 39 с.
$c табл.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 3
$i Микроэлектроника
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1982, вып. 1
|
| 304 |
# |
# |
$a Авторы указаны на обложке
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 32―35 (76 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 2430 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br78454
$1 2001
$v 1982, вып. 1
|
| 700 |
# |
1 |
$a Овчаренко
$b В. И.
$g Валерий Иванович
|
| 701 |
# |
1 |
$a Севостьянов
$b В. Е.
$g Владимир Егорович
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170403
$g psbo
|
