Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1981 гг.) / [В. И. Овчаренко, В. Е. Севостьянов]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Овчаренко, В. И. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1982 |
| Физические характеристики: |
39 с. : табл. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1982, вып. 1 |
1982, Вып.1: Методы анализа качества микросхем при их производстве
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||