Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 2: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков

Сохранено в:
Вид документа: Периодические издания
Автор: Вальков, В. М.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1982
Физические характеристики: 30 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1982, вып. 3
Загрузка