Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 2: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Вальков, В. М. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1982 |
| Физические характеристики: |
30 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1982, вып. 3 |