Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов: автореферат диссертации на соискание степени магистра техники и технологий: специальность 1-39 81 01
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шинтар, А. В. |
| Опубликовано: | Минск , 2016 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000cam0a22000002ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-br0001376752 | ||
| 005 | 20171227114310.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20170414d2016 |||||rus|50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a BY |
| 200 | 1 | # | $a Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов $e автореферат диссертации на соискание степени магистра техники и технологий $e специальность 1-39 81 01 |
| 210 | # | # | $a Минск $d 2016 |
| 215 | # | # | $a 16 с. |
| 320 | # | # | $a Библиография: с. 12—13 (6 назв.) |
| 675 | # | # | $a 6 $v 4 |
| 700 | # | 1 | $a Шинтар $b А. В. $g Андрей Владимирович |
| 801 | # | 0 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20170414 $g psbo |
| 830 | # | # | $a 24.06.2016 |