Методика оценки надежности микросхем памяти после воздействия электростатических разрядов: автореферат диссертации на соискание степени магистра техники и технологий: специальность 1-39 81 01
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шинтар, А. В. |
| Опубликовано: | Минск , 2016 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |