Применение метода внутреннего трения для исследования полупроводников / Л. Н. Александров, М. И. Зотов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Александров, Л. Н. |
| Опубликовано: | Москва : Институт "Электроника" , 1970 |
| Физические характеристики: |
21, [1] с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1970, вып. 7 |
Загрузка