Применение метода внутреннего трения для исследования полупроводников / Л. Н. Александров, М. И. Зотов

Сохранено в:
Шифр документа: 102065-24,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Александров, Л. Н.
Опубликовано: Москва : Институт "Электроника" , 1970
Физические характеристики: 21, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1970, вып. 7

1970, №7: Применение метода... / Александров Л. Н., Зотов М. И.

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
102065-24 ОФХ журналов и продолжающихся изданий (050) 13:4 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал