Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальность 05.02.23 Стандартизация и управление качеством продукции / Дорошевич Павел Викторович

Сохранено в:
Шифр документа: 2//191401(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Дорошевич, П. В.
Опубликовано: Москва , 2015
Физические характеристики: 18 с. : табл.
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2//191401(039) ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:3:92 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал